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硬X射線臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（RapidXAFS）只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限，無法滿足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配”，致使越來越多課題組需要XAFS測(cè)試。

臺(tái)式XAFS不依賴于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；不受其它元素干擾，可對(duì)同一材料中不同元素分別研究。

RapidXAFS HEX射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。

桌面XAFS測(cè)試對(duì)樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測(cè)試，可進(jìn)行原位測(cè)試；不受樣品狀態(tài)影響，可測(cè)量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等。

桌面XAS測(cè)試是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。

發(fā)射譜XES是一種重要的分析技術(shù)，主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。硬X射線具有較高的能量，能夠深入樣品內(nèi)部，使XES成為探測(cè)材料深層信息的強(qiáng)有力工具。